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能量分散型X射線熒光分析儀 元素分析儀北京新型號(hào)x射線熒光光譜儀，是日本電子株式會(huì)社2006年6月的升級(jí)版能量色散型光譜儀，是一直以來受用戶好評(píng)的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步升級(jí)產(chǎn)品。該設(shè)備具有出眾性能指標(biāo)，不僅能很好對(duì)應(yīng)rohs指令、elv指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元系分析，指令以外的一般元素也能在高感度下測(cè)試分析。
產(chǎn)品分類
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能量分散型X射線熒光分析儀 元素分析儀
型號(hào)：GR/JSX-3400R
新型號(hào)x射線熒光光譜儀，是日本電子株式會(huì)社2006年6月的升級(jí)版能量色散型光譜儀，是一直以來受用戶好評(píng)的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步升級(jí)產(chǎn)品。該設(shè)備具有出眾性能指標(biāo)，不僅能很好對(duì)應(yīng)rohs指令、elv指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元系分析，指令以外的一般元素也能在高感度下測(cè)試分析。
主要特點(diǎn)：液氮制冷型探頭、世界zui高探頭等分辨率、同等時(shí)間內(nèi)zui高檢出限度、測(cè)試時(shí)間短、各類優(yōu)異軟件、能量過濾裝置等。該產(chǎn)品世界各地，在同類型產(chǎn)品中性能，其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評(píng)與青睞。
特點(diǎn)
* 短距離傳導(dǎo)光路
* zui高分辨率檢測(cè)探頭
* 低檢測(cè)下限
* 短測(cè)試時(shí)間
* 射線過濾機(jī)構(gòu)
* 補(bǔ)正檢量線法
* 簡(jiǎn)單的操作界面
* 膜厚測(cè)定軟件
* 焊錫鍍層成分分析軟件
規(guī)格:
分析范圍: na to u(cd,pb,cr,hg,br)
x射線管: rh-tube,50kv-1.0ma
樣品室: 300mmφ-160mmh
樣品托: 1, 16（選購）
準(zhǔn)直器: ф 1mm；ф3mm； ф7mm
過濾器: 4種
樣品環(huán)境: 大氣，真空（選購）
軟 件: 環(huán)境分析軟件包
日本電子制造的JSX-3400R是靈敏度和操作性大幅提高的能量分散型x射線熒光分析儀，不僅可用于一般性分析，還可用于rohs與elv的審查與驗(yàn)收分析
此款分析儀應(yīng)對(duì)EU（歐盟）電器及電子設(shè)備廢料回收（WEEE）和特定有害物質(zhì)的使用限制（RoHS）指令。
采用新式光學(xué)系統(tǒng)、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測(cè)器，可以檢測(cè)塑料、包裝材料、顏料中鎘（Cd）、鉛（Pb）、水銀（Hg）、鉻（Cr）等特定有害物質(zhì)和砷（As）等有毒物質(zhì)，檢測(cè)精度達(dá)到ppm數(shù)量級(jí)。
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